JCID V1S Pro модуль тестування мікросхеми тачскріна для Apple iPhone 12 Mini / 12 Pro Max

Артикул107182117248
  • Відправка Новою Поштою
  • Гарантія на деталі
  • Обмін і повернення
5 087,00 ₴
В наявності: 5
Склад у Європі відправка у пʼятницю, 23 жовтня
Орієнтовно у вас 30 жовтня
Тільки повна передплата
Безкоштовна доставка від 1000 ₴
Стан
Новий
Тип запчастини
Бренд
Сумісні моделі
Інструмент для iPhone 12 Mini →

Опис товару

  • Модуль тестування тач-IC для виявлення несправностей сигналу сенсора на iPhone 12 mini та 12 Pro Max.
  • Забезпечує швидке виявлення відхилень у лініях даних, зв'язку та драйвера сенсора.
  • Точно перевіряє роботу тач-IC і пов'язаних схем.
  • Підходить для діагностики непрацюючого тачу, «привидного» тачу та переривчастих збоїв панелі.
  • Розроблено для роботи з програматором і системою тестування JCID V1S Pro.
  • Міцний модуль для професійних процесів ремонту на рівні плати.
  • Виробник: JCID.
  • JCID V1S Pro модуль тестування мікросхеми тачскріна для iPhone 12 Mini / 12 Pro Max — у каталозі SKLO Repair: інтернет-магазин запчастин для техніки Apple — iPhone, iPad, MacBook, Apple Watch і сервісний центр у Києві. Відправляємо Новою Поштою по всій Україні, працюємо з майстернями й сервісними центрами.

Інструмент для заміни в таких моделях: iPhone 12 Mini. Стан — новий. Артикул — 107182117248.

Ще до iPhone 12 Mini

Відгуки

Поки немає відгуків — станьте першим.

Залишити відгук

Без посилань і контактів — такі повідомлення затримує модерація.