JCID V1S Pro модуль тестування мікросхеми тачскріна для Apple iPhone 13-14 Series

Артикул107182117246
  • Відправка Новою Поштою
  • Гарантія на деталі
  • Обмін і повернення
5 087,00 ₴
Інші варіанти
В наявності: 5
Склад у Європі відправка у пʼятницю, 23 жовтня
Орієнтовно у вас 30 жовтня
Тільки повна передплата
Безкоштовна доставка від 1000 ₴
Стан
Новий
Тип запчастини
Інструмент
Бренд
Apple
Сумісні моделі
iPhone 13 Pro
Інструмент для iPhone 13 Pro →

Опис товару

  • Модуль тестування тач-IC для виявлення несправностей, пов'язаних із сенсором, у серіях iPhone 13 та 14.
  • Виявляє відхилення в лініях даних сенсора, схемах зв'язку та сигналах драйвера.
  • Допомагає діагностувати непрацюючий тач, затриманий відгук і «привидний» тач.
  • Повністю сумісний із програматором і діагностичною системою JCID V1S Pro.
  • Міцний прецизійний модуль для професійних ремонтних лабораторій з великим обсягом робіт.
  • Підходить для пошуку несправностей на рівні плати: збої дисплея та тач-IC.
  • Виробник: JCID.
  • JCID V1S Pro модуль тестування мікросхеми тачскріна для iPhone 13-14 Series — у каталозі SKLO Repair: інтернет-магазин запчастин для техніки Apple — iPhone, iPad, MacBook, Apple Watch і сервісний центр у Києві. Відправляємо Новою Поштою по всій Україні, працюємо з майстернями й сервісними центрами.

Інструмент для заміни в таких моделях: iPhone 13 Pro. Стан — новий. Артикул — 107182117246.

Ще до iPhone 13 Pro

Відгуки

Поки немає відгуків — станьте першим.

Залишити відгук

Без посилань і контактів — такі повідомлення затримує модерація.