JCID V1S Pro модуль тестування мікросхеми тачскріна для Apple iPhone 16 Series

Артикул107182117244

Відправка Новою Поштою
Гарантія на деталі
Обмін і повернення

5 087,00 ₴

Інші варіанти

В наявності: 5

Склад у Європі відправка у пʼятницю, 23 жовтня

Орієнтовно у вас 30 жовтня

Тільки повна передплата

Безкоштовна доставка від 1000 ₴

Новий

Тип запчастини

Бренд

Сумісні моделі

Опис товару

Модуль тестування тач-IC для точного виявлення несправностей сигналу сенсора на материнських платах серії iPhone 16.
Виявляє несправності в лініях зв'язку сенсора, каналах даних і драйверних схемах.
Допомагає діагностувати непрацюючий тач, «привидний» тач і переривчасту роботу сенсора.
Розроблено для безперебійної роботи з програматором і діагностичною платформою JCID V1S Pro.
Міцний прецизійний модуль, придатний для щоденного професійного ремонту на рівні плати.
Підходить для поглибленої діагностики збоїв дисплея та тач-IC у лінійці iPhone 16.
Виробник: JCID.
JCID V1S Pro модуль тестування мікросхеми тачскріна для iPhone 16 Series — у каталозі SKLO Repair: інтернет-магазин запчастин для техніки Apple — iPhone, iPad, MacBook, Apple Watch і сервісний центр у Києві. Відправляємо Новою Поштою по всій Україні, працюємо з майстернями й сервісними центрами.

Інструмент для заміни в таких моделях: iPhone 16 Pro. Стан — новий. Артикул — 107182117244.